Table of Contents
De afgelopen tien jaar heeft de Metrologische Dienst onafgebroken bijgedragen aan allerlei onderzoeksprogramma's binnen het European Metrology Programme for Innovation and Research (EMPIR). Opwarming van de aarde, voeding en gezondheid maar ook optica behoren tot de strategische richtingen waarop ons team van deskundigen zijn stempel heeft achtergelaten.
De klimaatverandering
De klimaatverandering is een van de belangrijkste bekommernissen op wereldschaal in de 21e eeuw en vraagt dan ook een snelle reactie. In dat opzicht zijn stevige klimaatgegevens en -modellen noodzakelijk om de maatschappelijke en economische impact ervan te voorspellen en te milderen. Onze deskundigen in thermometrie hebben meegewerkt aan onderzoeksprojecten met het oog op het aanpakken van gaten in de gegevens en om de ontwikkeling van een duurzaam geïntegreerd monitoring- en observatiesysteem voor Europa mogelijk te maken: MeteoMet 1 en 2.
Nanometrologie
Nanometrologie is een ander terrein waarop ons team bijzonder actief is. Producten zoals kledij, cosmetica, voedsel en verpakking, medicijnen, verven en coatings bevatten nanodeeltjes waarvan de werkingseigenschappen samenhangen met het uiterst kleine formaat, de vorm en de verspreiding ervan. Een grondige typering van nanomaterialen (die in de meeste toepassingen in het ware leven ver van ideaal zijn) is absoluut nodig om ondubbelzinnig vast te stellen wat hun relatie is met risico's voor gezondheid en duurzaamheid.
In dat verband doet de Metrologische Dienst al sinds 2012 mee aan O&O-projecten: binnen EMPIR of onder de vleugels van het Belgisch Federaal Wetenschapsbeleid (BELSPO). Ze bestrijken een breed spectrum van onderwerpen, van het typeren van biologische celfragmenten tot prenormatief en door regelgeving aangestuurd onderzoek.
Dimensionale metrologie
Talrijke onderzoeksprojecten op het gebied van dimensionale metrologie hebben profijt gehaald uit de expertise van de Metrologische Dienst. Optica en de optische industrie zijn dan wel sterkhouders in Europa, optische oppervlakken kunnen echter niet nauwkeuriger geproduceerd worden dan ze kunnen opgemeten worden. De state-of-the-art techniek voor het optisch polijsten verwijdert materiaal van oppervlakken op nanometerschaal. De technologie kan echter niet volledig tot haar recht komen als de fout met betrekking tot de gewenste vorm niet nauwkeuriger kan worden bepaald. Dit is des te moeilijker voor nieuwe asferische elementen met complexe vormen in moderne optische systemen. Voorbeelden variëren van intra-oculaire lenzen voor de behandeling van staar tot brillen, mobiele telefooncamera's, consumenten- en high-end camera's, systemen voor de astronomie en foto lithografische systemen voor de chipproductie. In deze context hebben specialisten van de Metrologische Dienst bijgedragen tot een verbetering van zeer precieze één punt meetmachines (betere nauwkeurigheid, vermindering van geometrische fouten)
Het Free Form 2-project (2016-2019) heeft zich gericht op de ontwikkeling van nieuwe en nauwkeurigere meetmethoden voor de 3D-kalibratie van optische elementen met vrije vorm. De topografie wordt gemeten met onzekerheden variërend van 100 tot 10 nanometer. Onze bijdrage aan het project bestond uit metingen met de F25 microcoördinatenmachine. Bovendien heeft ons laboratorium de internationale vergelijking tussen de projectpartners getest voor 6 verschillende soorten vrije vorm optische elementen, convex en concaaf, van extreem hoge precisie.
