De Metrologische dienst, van het oneindig grote tot het oneindig kleine

Onze gebouwen

De laboratoria van de Metrologische dienst zijn al sinds 1995 ondergebracht in het gebouw North Gate III. De North Gate werd zelfs speciaal opgetrokken om ze in onder te brengen. De centrale zone van het gebouw heeft funderingen die losgekoppeld zijn van de rest van het gebouw, aangezien sommige metingen uiterst gevoelig zijn voor trillingen (lengtematen, atoomklokken). Er moeten dus zeer diepe funderingen zijn en een elastische verbinding met de rest van het gebouw, zodat geen trillingen worden overgedragen. De metingen zijn ook heel gevoelig voor temperaturen. Alle laboratoria zijn dan ook uitgerust met een systeem om de temperatuuromstandigheden te controleren, gestabiliseerd op beter dan 1°C tot beter dan 0,2 °C.

Voor de kalibratie van grote massa's, grote volumes en gasmeters beschikt de Metrologische dienst over een ander gebouw in Haren (Haachtsesteenweg).

Onze cleanroom

Naast het microscopieplatform heeft de Metrologische dienst (SMD) onlangs geïnvesteerd in een 30 m² grote cleanroom-infrastructuur, ontworpen om voor een omgeving met een zeer laag niveau van deeltjes (voornamelijk stof) te zorgen in vergelijking met algemene laboratoriumomgevingen. De vervuiling van monsters tijdens de voorbereiding en karakterisering ervan wordt zo grotendeels vermeden. Onze cleanroom herbergt apparatuur voor de karakterisering van nanodeeltjes die een aanvulling vormt op de microscopietechniek (AFM). Hoewel de AFM een gedetailleerd 3D-beeld van het monster geeft, is het meetvolume echter beperkt tot een klein gebied (minder dan 100 µm x 100 µm x 100 µm), wat het gebrek aan concentratie-informatie verklaart. De concentratie van nanodeeltjes is echter een verplicht gegeven volgens de geldende regelgeving (koninklijk besluit van 27 mei 2014). Daarom heeft de Metrologische dienst geïnvesteerd in lichtscheidings- en -verstrooiingsapparatuur om aan deze specifieke behoefte te voldoen. De grootteverschilconcentratie wordt verkregen door het scheiden, concentreren en dimensioneren van de nanodeeltjes met behulp van een volledige keten van AF4 (fractionering door asymmetrische Flow Field-Flow Fractioning), UV en MALS (Multiangle Light Scattering) – DLS (Dynamic Light Scattering).

Prijzen en onderscheidingen

In 2017 ontving de nanometrologiegroep van de Metrologische dienst de Best Poster Award op de conferentie "Advanced Mathematical and Computational Tools in Metrology" in Glasgow, in het Verenigd Koninkrijk. Ons team had een algemene aanpak gepresenteerd om de onzekerheid van een meetgrootheid te beoordelen, wanneer er geen volledig fysiek model beschikbaar is, door statistisch geselecteerde meetgegevens op geschikte wijze te modelleren. De invloed van relevante parameters werd geëvalueerd door een gemengd Bayesiaans model aan te passen aan de experimentele gegevens (een aanpak die consistent is met de herziene en volledige Bayesiaanse versie van de GUM (Guide to the expression of uncertainty in measurements ).

Het Nanoregister

In samenwerking met de Federale Overheidsdienst Volksgezondheid, Veiligheid van de Voedselketen en Leefmilieu werkte de Metrologische dienst mee aan het opstellen van het Nanoregister, een lijst van nanomaterialen (en hun mengsels) die op de Belgische markt worden gebracht door invoerders, verdelers of fabrikanten (verplicht volgens het koninklijk besluit van 27 mei 2014). De Metrologische dienst leverde de technische specificaties die gebruikt werden om de definitie van nanodeeltjes en de bijbehorende nomenclatuur vast te stellen.

Het eerste jaarverslag (2016) presenteert opmerkelijke statistieken:

er werd 57 550 ton stoffen in de nanodeeltjesstaat geïmporteerd,
er werd 16 947 ton geproduceerd en
er werd 13 815 ton verdeeld.

U kunt ook consulteren:

European Metrology Network for Mathematics and Statistics

De meetwetenschap steunt in toenemende mate op nieuwe analytische en computationele benaderingen in het onderzoek. Dat vereist gespecialiseerde kennis en ondersteuning op het gebied van toegepaste wiskunde, statistiek en numerieke berekeningen, evenals geavanceerde rekeninstrumenten.

Het European Metrology Network (EMN) for Mathematics and Statistics is een centraal referentiepunt dat zich richt op de noodzaak van integratie tussen meetwetenschap en wiskundige en statistische methoden. Door het aanbieden van een website, gidsen, aanbevolen software, ondersteuning en samenwerking in wetenschappelijke projecten, evenals workshops en opleidingsmateriaal, wil dit EMN het gebied van wiskundige en statistische toepassingen voor de meetwetenschap in Europa zowel ontwikkelen als ondersteunen. Dit centrale punt voor beste praktijken op het gebied van wiskunde en statistiek in het domein van de metrologie zal bijdragen tot een robuuste en geavanceerde meetwetenschap voor de toekomst en tot de hoogste wetenschappelijke uitmuntendheid in de Europese industrie.

Naar de website van het European Metrology Network for Mathematics and Statistics

Onze collega's van de Metrologische dienst deden hun ervaring op in de statistiek met het inschatten van de onzekerheid die van invloed is op de metingen die binnen de dienst worden verricht. Die omvatten meer bepaald: de toepassing van Bayesiaanse methoden om de onzekerheid van metingen van de grootte van nanodeeltjes in te schatten met atoomkrachtmicroscopie; ontwikkeling van numerieke simulaties voor verschillende meetsystemen die worden gebruikt om de componenten van de onzekerheid te evalueren.

Op basis van die solide expertise hebben zij zich bij dit netwerk aangesloten en delen zij hun kennis ten behoeve van de Europese metrologiegemeenschap.