La nanotechnologie a connu ces dernières années un développement explosif dans diverses applications. La croissance et les applications potentielles vont encore s'accroître à l'avenir. Les exemples se trouvent dans différents domaines, comme :

  • la microélectronique où la miniaturisation des composants ne connaît pas de limites dans le but d’augmenter la vitesse des transmissions et de diminuer la consommation d’énergie la taille de certains composants attaint ainsi 22 nm et des chips sont construits en nanostructures tridimensionnelles ;
  • les MEMS (structures micro-électro-mécaniques) : des outils intelligents complexes et miniaturisés sont réalisés pour diverses applications ;
  • la fabrication et l’utilisation de nanotubes de carbone pour leurs propriétés spécifiques et pour améliorer d’autres matériaux ;
  • l’ajout de nanoparticules dans des matériaux pour améliorer leurs propriétés ou leur en conférer de nouvelles ;
  • la modification des propriétés des matériaux : à l’échelle nanométrique beaucoup de matériaux présentent un comportement physique différent de celui « normal » macroscopique.

Les nanotechnologies et les nanoparticules peuvent toutefois représenter un danger pour la santé. Si on considère, par exemple, la problématique des particules fines : les particules fines sont dangereuses quand leurs dimensions sont entre certaines limites et qu'elles présentent certaines formes.

Autant pour soutenir le développement des nanotechnologies que pour en évaluer les risques, il est de la plus haute importance que les dimensions et formes à l’échelle nanométrique puissent être déterminées de façon correcte. Cela implique non seulement que les instruments mesurent correctement, mais aussi que la référence utilisée est connue avec précision et que la méthode de mesure soit adaptée à l’objet à mesurer et à la précision nécessaire.

C'est ici que le Service Etalons Nationaux du SPF Economie joue un rôle essentiel, non seulement à travers les projets spécifiques dédiés à la nanométrologie mais aussi par la recherche continue de la meilleure précision possible des autres mesures physiques. En effet, à l’échelle nanométrique, la précision des mesures électriques, de la température ou de la pression, conditionne la précision des mesures dimensionnelles proprement dites.

Le rôle du SPF Economie

Le Service Etalons Nationaux, met des étalons nationaux, avec la plus grande précision possible, à la disposition de l’industrie et des centres de recherche et garantit la confiance internationale en ces étalons. Pour les mesurages à l'échelle nanométrique et pour des mesurages à plus grande échelle avec une précision nanométrique, le Service Etalons Nationaux a démarré des activités spécifiques dans le domaine de la « nanométrie ». Nous pouvons donc soutenir la nanotechnologie en offrant à ce secteur la possibilité de garantir, via nos étalonnages de leurs appareils et étalons, l’exactitude de leurs mesurages et la reconnaissance internationale de ces mesures. Par ailleurs, il est possible d’effectuer correctement des mesurages sur différents objets.

L’objectif des développements réalisés dans la nanométrologie est d’assurer la traçabilité des mesures à l’étalon de longueur national, via des principes interférométriques et des principes de diffraction à des longueurs d’onde laser étalonnées.

Pour plus d'informations, consultez

  1. Sebaihi, N.; De Boeck, B.; Yuana, Y.; Nieuwland, R.; Pétry, J. Dimensional Characterization of Extracellular Vesicles Using Atomic Force Microscopy. Meas. Sci. Technol. 2017, 28, 34006.

  2. Nicolet, A.; Meli, F.; van der Pol, E.; Yuana, Y.; Gollwitzer, C.; Krumrey, M.; Cizmar, P.; Buhr, E.; Pétry, J.; Sebaihi, N.; et al. Inter-Laboratory Comparison on the Size and Stability of Monodisperse and Bimodal Synthetic Reference Particles for Standardization of Extracellular Vesicle Measurements. Meas. Sci. Technol. 2016, 27, 35701.

  3. Petry, J.; De Boeck, B.; Dobre, M.; Peruzzi, A. Few measurements, non-normality: a statement on the expanded uncertainty. Advanced Mathematical And Computational Tools In Metrology and Testing X. 2015, Vol. 86, 301."

Dernière mise à jour
3 juillet 2019

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