Table of Contents

    Veel Euramet-onderzoeksprojecten op het gebied van dimensionale metrologie hebben baat gehad bij de expertise van de Metrologische dienst.

    Optiek en de optische industrie behoren tot de sterke punten van Europa, maar optische oppervlakken kunnen slechts zo goed worden vervaardigd als ze kunnen worden gemeten. Met behulp van de modernste optische polijsttechnieken kan materiaal op nanometerschaal van oppervlakken worden verwijderd. De technologie is echter niet productief als de afwijking ten opzichte van de ontwerpvorm niet voldoend nauwkeurig kan worden bepaald. Dat is nog moeilijker voor de nieuwe asferische elementen met complexe vormen die in moderne optische systemen worden toegepast. Voorbeelden hiervan variëren van intra-oculaire lenzen voor de behandeling van staar, brillen, mobiele telefooncamera's, consumenten- en high-end camera's, tot astronomische en foto-lithografische systemen voor de productie van computerchips.

    In die context hebben de experten van de Metrologische dienst bijgedragen aan de verbetering van zeer nauwkeurige enkelpunts-vormmeetmachines (betere nauwkeurigheid, vermindering van geometrische fouten) .

    H Nouira, RH Bergmans, A Küng, H Piree, R Henselmans, HAM Spaan, Ultra-high precision CMMs and their associated tactile or/and optical scanning probes , International Journal of Metrology and Quality Engineering, vol. 5. n° 2, 204 (2014).

    De projecten Form en FreeForm

    Beide projecten hadden tot doel nieuwe en nauwkeurigere meetmethoden te ontwikkelen voor de 3D-kalibratie van vrije vorm optische elementen waarvan de topografie moet worden gemeten met onzekerheden van 0,1 micrometer tot 10 nanometer.

    Onze bijdrage aan het project bestond uit metingen die werden uitgevoerd met de F25 microcoördinatenmachine. Daarnaast heeft ons laboratorium de internationale vergelijking tussen de projectpartners geleid voor 6 verschillende soorten uiterst nauwkeurige convexe en concave vrije vorm optische elementen

    Form (2011-2014) : Optical and tactile metrology for absolute form characterisation

    FreeForm (2016-2019) - Reference algorithms and metrology on aspherical and freeform lenses

    Laatst bijgewerkt
    8 maart 2022